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闫爱斌


发表日期:2017-03-28 供稿:管理员

姓名: 闫爱斌

性别:

出生年月:19833


导师类别:硕士研究生导师
(与陈志立教授联名招生)

技术职称:副教授

联系方式

abyan@mail.ustc.edu.cn

招生专业名称

计算机科学与技术、计算机应用技术等

主要研究方向

1. 计算电路软错误率的软件开发(C++编程)

2. 高可靠的微型电路仿真与设计(EDA编程)

3.面向数字电路的嵌入式软件开发(Verilog编程)

个人简历

闫爱斌,男,山东德州人。2008年先后赴日本川崎、東京六本木实习,2009年获得中国科学技术大学工程硕士学位。20097月至20129月,先后在上海思华科技、科大国创软件公司担任软件研发工程师、项目组长等职务,软件开发与项目管理经验丰富。2015年获得合肥工业大学工学博士学位。

学术成果

目前已发表学术论文24篇,其中SCI/EI期刊12篇、EI会议3篇,已申请国家发明专利10项,获得中国软件著作权1项,作为项目负责人主持国家自然科学基金项目1项,作为项目骨干成员参与国家自然科学基金项目、安徽省高校省级自然科学研究重大项目计5项,现为IEEE   Transactions on Device and Materials Reliability、Microelectronics   Reliability等国际SCI期刊审稿人。

1.         近三年发表的期刊/会议论文列表(第一作者、节。

[J1] Aibin Yan, Zhengfeng   Huang, Maoxiang Yi, et al. Double-node-upset-resilient latch design for   nanoscale CMOS technology[J]. IEEE Transactions on Very Large Scale   Integration (VLSI) Systems,   (SCI, CCF B), 2017.https://doi.org/10.1109/TVLSI.2017.2655079

[J2] Aibin Yan, Zhengfeng   Huang, Xiangsheng Fang, et al. Single event double-upset fully immune and   transient pulse filterable latch design for nanoscale CMOS[J]. Microelectronics   Journal (SCI), vol. 61, pp. 43-50, 2017.

[J3] Aibin Yan, Huaguo   Liang, Yingchun Lu, et al. A transient pulse dually filterable and online   self-recoverable latch[J]. IEICE Electronics Express (SCI), vol.   14, no. 2, pp. 1-6, 2017.

[J4] Aibin Yan, Huaguo   Liang, Zhengfeng Huang, et al. An SEU resilient, SET filterable and cost   effective latch in presence of PVT variations[J]. Microelectronics Reliability   (SCI), vol. 63, no. 1, pp. 239-250, 2016.

[J5] Aibin Yan, Huaguo   Liang, Zhengfeng Huang, et al. High-performance, low-cost, and highly   reliable radiation hardened latch design[J]. Electronics Letters (SCI),   vol. 52, no. 2, pp. 139-140, 2016.

[J6] Aibin Yan, Huaguo   Liang, Zhengfeng Huang, et al. PIPBQ Effect Aware SER Analysis for   Combinational Logic Circuits[J]. Journal of Electronic Science &   Technology, vol. 14, no. 1, pp. 60-67, 2016.

[J7] 闫爱斌, 梁华国, 黄正峰, . 考虑多时钟周期瞬态脉冲叠加的锁存窗屏蔽模型[J]. 电子学报 (EI), 2016, 44(12):3011-3019.

[J8] Aibin Yan, Huaguo   Liang, Zhengfeng Huang, et al. A self-recoverable, frequency-aware and   cost-effective robust latch design for nanoscale CMOS technology[J]. IEICE   Transactions on Electronics (SCI), vol. E98-C, no. 12, pp. 1171-1178,   2015.

[J9] 闫爱斌, 梁华国, 黄正峰, . 考虑NBTI效应的组合电路软错误率计算方法[J]. 计算机辅助设计与图形学报(EI),   2015, 27(8):1562-1569.

[C1] Aibin Yan, Zhengfeng   Huang, Maoxiang Yi, et al. HLDTL: High-performance, low-cost, and double node   upset tolerant latch design[C]. IEEE VLSI Test Symposium (EI, CCF   C), 美国拉斯维加斯,   2017/4/9-2017/4/12.

[C2] Aibin Yan, Zhengfeng   Huang, Xiangsheng Fang, et al. Novel low cost and double node upset tolerant   latch design for nanoscale CMOS technology[C]. IEEE Asian Test Symposium   (EI, CCF C), 日本广岛,   2016/11/21-2016/11/24.

[C3] Aibin Yan, Xuejun   Li, Zhao lv, et al. High performance, low cost, and double node upset   tolerant latch design[C]. IEEE International Conference on   Dependable Systems and Networks (CCF B), 法国图卢兹, 2016/6/28-2016/7/1.

2.          近三年申请/授权的国家发明专利列表(第一发明人)

[P1]  闫爱斌, 崔杰, 易茂祥, . 高性能低开销的双节点翻转在线自恢复锁存器[P]. 申请号:   201710022408.2

[P2]  闫爱斌, 王华彬, 黄正峰, . 高性能低开销的单粒子翻转在线自恢复锁存器[P]. 申请号:   201611217325.0

获奖情况

无特殊

在研项目

[1] 国家自然科学基金青年科学基金项目, “纳米集成电路软错误率评估关键技术研究(No.61604001)”, 2017.1-2019.12,   项目负责人, 主持, 在研.

[2] 国家自然科学基金面上项目, “星载系统芯片(SoC)的抗辐射加固设计研究(No.61574052)”,   2016.1-2019.12, 参与, 在研.

[3] 国家自然科学基金面上项目, “纳米CMOS集成电路抗老化性设计(No.61371025)”,   2014.1-2017.12, 参与, 在研

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